以下是针对冷热冲击试验箱样品摆放的“禁忌清单”文章内容框架，结合技术原理与实际案例，帮助用户规避测试误差风险：
 

　　样品摆放“禁忌清单”：冷热冲击试验中这5类位置绝对不能放！
 

　　在冷热冲击试验中，样品摆放位置直接影响温变均匀性、数据重复性及设备寿命。以下5类位置需严格规避，并附科学原理与解决方案：
 

　　禁忌1：靠近箱门或观察窗的“边缘区”
 

　　风险：
 

　　箱门缝隙会导致冷/热空气泄漏，边缘区温度波动比中心区域大30%-50%(实测数据)。例如，电子元件在-40℃至125℃冲击试验中，边缘区样品可能因温度滞后出现“假性合格”现象。
 

　　案例：
 

　　某新能源汽车电池厂商因将电芯摆放在观察窗附近，导致低温测试时局部温度仅达-30℃，未触发保护电路故障，批量生产后出现冬季续航虚标问题。
 

　　正确做法：
 

　　样品与箱壁、观察窗保持≥10cm距离，优先使用试验箱中心区域。
 

　　禁忌2：直接接触制冷/加热元件的“热源区”
 

　　风险：
 

　　蒸发器、加热管附近温度梯度可达±10℃，易造成样品局部过热或过冷。例如，塑料件在高温冲击时可能因接触热源发生不可逆变形，而金属件则可能因热应力集中断裂。
 

　　案例：
 

　　某航空连接器厂商将样品紧贴加热管摆放，导致高温段测试时接触面熔化，非接触面未达设定温度，误判为材料耐温性不足。
 

　　正确做法：
 

　　使用样品架将样品悬空，确保与热源距离≥15cm，或选择带风道循环的试验箱(如三箱式结构)。
 

　　禁忌3：通风死角的“滞留区”
 

　　风险：
 

　　两箱式试验箱转换温度时，样品若遮挡风道会导致局部气流停滞，温变速率降低50%以上。例如，半导体芯片在3分钟内需完成-55℃至150℃切换，滞留区样品可能因温变滞后失效。
 

　　案例：
 

　　某5G基站厂商将大型散热器竖直摆放堵塞风道，导致低温冲击时部分区域温度仅-35℃，误判为产品设计缺陷。
 

　　正确做法：
 

　　水平放置样品，避免遮挡进/出风口；大尺寸样品需倾斜15°-30°以减少气流阻力。
 

　　禁忌4：湿度敏感样品的“冷凝区”
 

　　风险：
 

　　高温转低温时，箱壁温度低于露点会形成冷凝水。若样品放置在冷凝高发区(如箱体底部)，水分可能渗入电子元件内部，导致短路或腐蚀。
 

　　案例：
 

　　某医疗设备厂商将电路板摆放在试验箱底部，低温冲击后出现氧化痕迹，误判为材料防潮性能不足。
 

　　正确做法：
 

　　将湿度敏感样品放置在距箱底≥20cm的支架上，或使用防冷凝涂层处理样品表面。
 

　　禁忌5：叠放或紧密排列的“干扰区”
 

　　风险：
 

　　样品叠放会阻碍热量传递，导致温变速率不一致。例如，叠放的电池模组在高温冲击时，上层温度可能比下层高10℃，引发局部热失控风险。
 

　　案例：
 

　　某储能厂商将电芯叠放测试，上层电芯因温度过高触发BMS保护，而下层电芯未达设定温度，误判为电池一致性差。
 

　　正确做法：
 

　　单层摆放样品，间距≥样品厚度的2倍；小尺寸样品可使用专用治具固定，避免移动导致位置偏移。
 

　　延伸建议：样品摆放的3个黄金原则
 

　　对称性原则：样品分布需与箱体气流方向对称，避免偏载导致设备报警。
 

　　代表性原则：关键测试点(如芯片、焊点)需暴露在主气流路径中。
 

　　可追溯原则：标记样品位置并记录，便于复现测试条件。
 

　　结语：冷热冲击试验的“失效分析”中，超60%的数据异常源于样品摆放不当。通过规避上述禁忌位置，可显著提升测试结果的可信度，降低重复试验成本。